قالت وزارة العدل الأميركية يوم الخميس إن 15 صينيا يعيشون في الولايات المتحدة اتهموا بالتحايل في امتحانات تؤهل للالتحاق بالكليات ومنها امتحان (سات).
وذكرت هيئة محلفين اتحادية أن المحتالين استخدموا جوازات سفر صينية مزورة لايهام مسؤولي الاختبار أنهم من سيستفيدون من نتيجة الاختبار.
وافاد بيان لوزارة العدل أنه في الفترة بين 2011 و2015 سجل مؤدو الامتحانات خصوصاً في غرب بنسلفانيا درجات في اختبار الكفاءة الدراسية (سات) والانجليزية كلغة اجنبية (تويفل) واختبار تقييم الخريجين (جي.آر.إي) الذي يسمح بالالتحاق بالدراسات العليا.
وقال ديفيد هيكتون المدعي الأميركي لمقاطعة وسترن ديستريكت اوف بنسلفانيا إن المستفيدين "قبلوا عن طريق الاحتيال لدخول مؤسسات أمريكية للتعليم العالي."
وقال هيكتون إن الطلاب غشوا أيضا في مستلزمات تأشيرة الطلبة باستخدام جوازات سفر صينية مزورة.
واذا أدين المدعى عليهم فسيواجهون عقوبة تصل الى السجن 20 عاما وغرامة 250 الف دولار عن كل تهمة من تهم الاحتيال. ويمكن أن يواجهوا ايضا عقوبة السجن خمس سنوات كحد أقصى عن جرائم التآمر.
